microscope à force atomique en mode contact oor Engels

microscope à force atomique en mode contact

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contact mode AFM

contact mode atomic force microscope

Soortgelyke frases

microscope à force atomique en mode non-contact
AFM in the non-contact mode · NC-AFM · noncontact atomic force microscope

voorbeelde

Finalement, on peut utiliser un microscope à force atomique en mode contact pour nettoyer localement la surface et assembler les grappes par application de la pointe du microscope à force atomique sur la surface du substrat et par balayage à l'aide de cette pointe d'une région de la surface de substrat.
Finally, contact mode atomic force microscopy can be used for surface local cleaning and cluster assembling by applying an atomic force microscopy tip to the surface of the substrate and scanning with this tip a region of the substrate surface.

Un équipement ultra vide (UHV) multi-chambres a spécialement été conçu et assemblé au CEMES depuis 2007 pour permettre la croissance de couches minces d’AlN par épitaxie par jets moléculaires (EJM), et l’observation de la surface par microscopie à force atomique en mode non contact (NC-AFM).
An ultra high vacuum (UHV) equipment was specially designed and assembled in the CEMES since 2007 to allow the growth of thin layers of AlN by molecular beam epitaxy (MBE), and the observation of the surface by atomic force microscopy in the non-contact mode (NC-AFM).

La présente invention concerne un microscope à forces atomiques (AFM) (10) combinant un actionneur de position AFM Z (16) et une console à actionnement de position Z autonome (les deux étant opérables en mode cyclique et en mode contact), avec des circuits appropriés de contrôle de rétroaction emboîtés permettant d'effectuer une imagerie à grande vitesse et des mesures de position Z précises.
An AFM (10) that combines an AFM Z position actuator (16) and a self-actuated Z-position cantilever (20) (both operable in cyclical mode and contact mode), with appropriate nested feedback control circuitry to achieve high-speed imaging and accurate Z-position measurements.