공정 흐름(팹 내부에 물리적으로 수용됨)의 초기 단계에서 수행되는 웨이퍼의 개별 칩/디바이스에 대한 전기적 테스트는 온칩 디바이스 성능(트랜지스터, 인터커넥트, 회로 등)에 대한 조기 피드백과 반도체 공정에 대한 조기 모니터링을 가능하게 합니다.
Electrical test of individual chips/devices on wafers, performed at an early stage in the process flow (embedded, so physically in fab) can allow early feedback of on-chip device performance (transistors, interconnects, circuits, and more) and allow early monitoring of the semiconductor processes.ParaCrawl Corpus ParaCrawl Corpus