Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
An x-ray microscope stage (206) enables alignment of a sample about a rotation axe is to enable three dimensional tomographic imaging of the sample using an x-ray microscope (152 and 164).
French[fr]
L'invention concerne un étage de microscope à rayons X permettant d'aligner un échantillon autour d'un axe de rotation pour permettre d'effectuer une imagerie tomographique tridimensionnelle de l'échantillon au moyen d'un microscope à rayons X.