Metadata
Author: ParaCrawl Corpus
Data
English[en]
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is an important tool in investigating refractory gold balances because of its unique ability to detect and map submicroscopic gold in carrier minerals.
French[fr]
La microscopie ionique (SIMS) est un outil important pour l'étude des bilans de l'or réfractaire en raison de sa capacité unique à détecter et à cartographier l'or submicroscopique dans les minéraux porteurs.