Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
The present invention comprises the steps of: (A) receiving a dispute patent set comprising at least two lawsuit patent and appeal patents; (B) receiving dispute information related to the dispute patents; (C) assigning a dispute numeric value to the dispute patents belonging to the dispute patent set; and (D) with respect to the dispute patent set to which the dispute numeric value is assigned and a non-dispute patent set comprising two or more non-dispute patents to which dispute numeric values are assigned as a non-dispute numeric reference value, establishing at least one patent dispute risk measurement model by setting the dispute numeric value and the non-dispute numeric reference value as reaction variable values and using a description variable value for each of two or more description variables and a statistical scheme for the dispute patents and the non-dispute patents.
Korean[ko]
본 발명은 (A) 적어도 2 이상의 소송 특허 및 준 소송 특허로 구성되는 분쟁 특허 집합을 입수 받는 단계; (B) 상기 분쟁 특허와 관련된 분쟁 정보를 입수 받는 단계; (C) 상기 분쟁 특허 집합에 속하는 분쟁 특허에 대하여 분쟁 수치값을 부여하는 단계; 및 (D) 상기 분쟁 수치값이 부여된 분쟁 특허 집합과 분쟁 수치값이 비분쟁 수치 기준값으로 부여되는 적어도 2 이상의 비분쟁 특허로 구성되는 비분쟁 특허 집합에 대하여, 상기 분쟁 수치값과 비분쟁 수치 기준값을 반응 변수값으로 하고, 상기 분쟁 특허와 상기 비분쟁 특허에 대하여 적어도 2 이상의 설명 변수별 설명 변수값을 사용하여 통계학적 기법을 사용하여 적어도 하나 이상의 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 수립하는 단계;를 포함한다.