Metadata
Author: springer
Data
German[de]
Einige Meßmethoden der Lebensdauer und Beweglichkeit von Ladungsträgern in p-i-n-Detektoren wurden auf Grund der Spannungsabhängigkeit der Rekombinationsverluste und der Durchlaufzeit entwickelt.
English[en]
Some new methods of measuring the lifetime and mobility in p-i-n-type counters by means of the voltage dependence of the recombination losses and the transit time and new methods of measuring the detector homogeneity were developed.