Metadata
Author: cordis
Data
German[de]
Wafer-förmige Substrate unterschiedlicher Materialien wie Silizium, Saphir, Quarz und Pyrex wurden mit spezifischen Test-SAM-Oberflächen beschichtet, um die Messgenauigkeit der Kontaktwinkel zu bewerten, die 0,1° erreichte.
English[en]
Wafer-shaped substrates of different materials, such as silicon, sapphire, quartz and pyrex, were coated with dedicated test SAM layers to evaluate the accuracy of measuring contact angles, which reached 0.1o.
Spanish[es]
Se recubrieron sustratos con forma de placa de diferentes materiales, como silicona, zafiro, cuarzo y pírex, con capas automontables de prueba específicas para evaluar la precisión de las mediciones de los ángulos de contacto, que alcanzaron los 0.1o.
French[fr]
Des substrats en forme de pastilles de différents matériaux, notamment de silicone, de saphir, de quartz et de pyrex, ont été revêtus à l'aide de couches MAS de test spéciales pour évaluer la précision de mesure des angles de contact, qui a atteint 0,1°.
Italian[it]
I substrati wafer di differenti materiali (ad esempio silicio, zaffiro, quarzo e pirex) sono stati rivestiti con specifici strati SAM di prova per valutare l'accuratezza delle misure degli angoli di contatto, che hanno raggiunto una precisione di 0,1 gradi.