Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
The invention relates in particular to a high-resolution spectroscopic study of transparent and/or reflective substances whose optical or geometric profile is simultaneously determined by means of a near field scanning optical microscope such as a frustrated vanishing field transmission microscope or a guided near field reflection microscope.
French[fr]
La présente invention est plus particulièrement destinée à l'étude spectroscopique à haute résolution de substances transparentes et/ou réfléchissantes dont on relève simultanément le profil optique, ou le profil géométrique, au moyen d'un microscope optique à balayage en champ proche, tel qu'un microscope par transmission en champ évanescent frustré, ou un microscope par réflexion en champ proche guidé.