Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
Provided is a method for detecting short-circuit defect area of an organic light-emitting device.
French[fr]
L'invention concerne un procédé de détection de zone de défaillance en court-circuit d'un dispositif électroluminescent organique.
Korean[ko]
본 발명은 유기발광소자의 단락 결함 영역의 검출방법에 관한 것으로서, 유기발광소자의 백점 (white-spot) 영역, 또는 흑점 (dark-spot) 영역을 검출하게ᅪ, 상기 유기발광소자가 단락 결함이 발생하지 않은 경우의 작동 온도보다 30% 이상 높은 영역을 검출하여, 단락 결함이 발생한 전도성 유닛 내의 단락 결함 영역을 검출하는유기발광소자의 단락 결함 영역의 검출방법을 나타낸다.