Metadata
Author: scielo-abstract
Data
English[en]
After high-energy milling, X ray diffraction (XRD) patterns were analyzed to determine changes in the lattice parameter and find both microstrain and crystallite sizes, which were first calculated using the Williamson-Hall (W-H) method and then compared with the transmission electron microscope (TEM) images.
Spanish[es]
Después de la molienda de alta energía, se analizaron los patrones de difracción de rayos X para determinar cambios en parámetros de red, y calcular las micro-deformaciones y el tamaño de las cristalitas, los cuales fueron calculados por el método de Williamson Hall (W-H), para luego ser comparados con los datos de las imágenes obtenidas por microscopia electrónica de transmisión (MET).