Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
Socket for inspecting semiconductor package and substrate, flexible contact pin used therein, and method for manufacturing flexible contact pin
French[fr]
Support pour inspecter un semi-conducteur mis en boîtier et un substrat, broche de contact souple utilisée dans celui-ci, et procédé pour fabriquer une broche de contact souple
Korean[ko]
반도체 패키지 및 기판 검사용 소켓, 이에 사용되는 플렉시블 콘택트핀, 및 이 플렉시블 콘택트핀의 제조 방법