Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
A method of measuring high-speed similarity using a histogram and a similarity measuring device capable of performing the same are provided.
French[fr]
La présente invention concerne un procédé de mesure à grande vitesse d’une similarité à l’aide d’un histogramme et un dispositif de mesure de similarité capable de réaliser le procédé.
Korean[ko]
본 발명의 실시례에 따른 고속 유사도 측정 방법은 유사도 측정 대상 영상의 히스토그램을 생성하는 히스토그램 생성 단계, 상기 히스토그램을 기반으로 상기 유사도 측정 대상 영상의 이진수 열을 생성하는 메타데이터 생성 단계, 메타데이터 데이터베이스로부터 기준 영상의 이진수 열을 획득하여 상기 유사도 측정 대상 영상의 이진수 열과 매칭(matching)하는 매칭 단계 및 상기 매칭 결과를 출력하는 출력 단계를 포함한다.