Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
Tester hardware (100) is constructed so that at least some of the functionality thereof can be altered, in accordance with the configuration data (306) that is stored in a rewritable non-volatile memory (102); the tester hardware (100) is constructed so as to be capable of supplying power source voltage in respect of a DUT (4), transmitting signals to the DUT (4), and receiving signals from the DUT (4). (i) When a test system (2) is set up, an information processing device (200), in response to user input, acquires configuration data (306) from the server (300), and writes this data in the non-volatile memory (102).
French[fr]
Du matériel de testeur (100) est construit d'une manière telle qu'au moins certaines de ses fonctions peuvent être modifiées, conformément aux données de configuration (306) qui sont stockées dans une mémoire non volatile réinscriptible (102) ; le matériel de testeur (100) est construit pour pouvoir fournir une tension de source d'alimentation par rapport à un DUT (4), envoyer des signaux au DUT (4) et recevoir des signaux en provenance du DUT (4). (i) Lorsqu'un système de test (2) est configuré, un dispositif de traitement d'informations (200), en réponse à une entrée utilisateur, acquiert des données de configuration (306) auprès du serveur (300), et écrit ces données dans la mémoire non volatile (102).
Japanese[ja]
テスターハードウェア100は、書き換え可能な不揮発性メモリ102に格納されたコンフィギュレーションデータ306に応じて、少なくともその機能の一部が変更可能に構成され、DUT4に対して電源電圧を供給し、DUT4に信号を送信し、DUT4からの信号を受信可能に構成される。 情報処理装置200は、(i)試験システム2のセットアップ時に、ユーザの入力に応答してサーバ300からコンフィギュレーションデータ306を取得し、不揮発性メモリ102に書き込む。