Metadata
Author: ParaCrawl Corpus
Data
English[en]
The model takes electrostatic forces and van der Waals forces into account as a voltage is applied between a scanning tunneling microscope tip and a sample.
Swedish[sv]
Modellen tar hänsyn till elektrostatiska krafter samt till van der Waalskrafter när en spänning påläggs mellan en spets i ett sveptunnelmikroskop och en provyta.