Metadata
Author: cordis
Data
German[de]
Zu diesen Verfahren zählten Rasterkraftmikroskopie (Atomic Force Microscopy - AFM), Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy - MFM), Rastertunnelmikroskopie (Scanning Tunneling Microscopy - STM) und Niedertemperatur-Ultrahochvakuum STM sowie genehmigte Untersuchungen von Geräten mit einer Größe von 200 Nanometern.
English[en]
The techniques included: Atomic Force Microscopy (AFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Low Temperature Ultra High Vacuum STM and allowed study of devices as small as 200 nanometers.
Spanish[es]
Las técnicas consistieron en lo siguiente: el microscopio de fuerzas atómicas (AFM), el microscopio de fuerzas magnéticas (MFM), el microscopio de efecto túnel (STM) y el STM de ultravacío a baja temperatura permitieron estudiar dispositivos de 200 nanómetros.
French[fr]
Les techniques utilisées sont notamment la microscopie à force atomique (MFA), la microscopie à force magnétique (MFM), la microscopie à balayage à effet tunnel (STM, Scanning Tunneling Microscopy) et la STM sous ultra-vide et à basse température et ont permis d'étudier des dispositifs de l'ordre de 200 nanomètres.
Italian[it]
Le tecniche usate sono state la microscopia a interazione atomica (AFM), la microscopia di gradiente magnetico (MFM), la microscopia a scansione per effetto tunnel (STM), e la STM a bassa temperatura e vuoto ultra alto, che hanno permesso di studiare dispositivi di dimensioni fino a 200 nanometri.