Besonderhede van voorbeeld: -699253752291088341

English

Improve Manufacturing Yield and Reduce AMC Risk Fine particulate and Airborne Molecular Contamination (AMC) need to be carefully controlled for high-yield, low-reject semiconductor manufacturing.

Spanish

Las partículas finas y la contaminación molecular en suspensión (AMC) se deben controlar cuidadosamente en los procesos de fabricación de semiconductores, con el fin de obtener un elevado rendimiento y un nivel de rechazos bajo.