Metadata
Author: WikiMatrix
Data
English[en]
Single-event upsets (SEU) or transient radiation effects in electronics are state changes of memory or register bits caused by a single ion interacting with the chip.
Spanish[es]
Trastornos de evento simple (SEU) o efectos transitivos de radiación en electrónica son cambios de estado en bits de memoria o registros causados por un simple ion interactuando con el chip.