Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
The defect inspection device of the present example comprises: a first light source for shining a first light onto an inspection object; a retroreflective plate which retroreflects the first light reflected from the inspection object such that the first light again falls incident on the inspection object; a second light source which shines a second light onto the inspection object; and a camera which captures an image of the inspection object from the first light, which has been retroreflected and made to again fall incident on the inspection object by means of the retroreflective plate, and the second light emitted from the second light source.
French[fr]
La présente invention a trait à un dispositif de contrôle de défaut donné à titre d'exemple qui comprend : une première source lumineuse permettant d'éclairer au moyen d'une première lumière un objet à contrôler ; une plaque rétroréfléchissante qui rétroréfléchit la première lumière réfléchie à partir de l'objet à contrôler de sorte que la première lumière est de nouveau incidente à l'objet à contrôler ; une seconde source lumineuse qui éclaire au moyen d'une seconde lumière l'objet à contrôler ; et une caméra qui capture une image de l'objet à contrôler à partir de la première lumière, qui a été rétroréfléchie et renvoyée de manière à être de nouveau incidente à l'objet à contrôler au moyen de la plaque rétroréfléchissante, et à partir de la seconde lumière émise à partir de la seconde source lumineuse.
Korean[ko]
본 실시예의 결점 검사장치는 검사 대상물로 제 1 광을 조사하는 제 1 광원; 상기 검사 대상물에서 반사되는 제 1 광을 재귀 반사시킴으로써, 상기 검사 대상물로 상기 제 1 광이 재입사되도록 하는 재귀 반사판; 상기 검사 대상물로 제 2 광을 조사하는 제 2 광원; 및 상기 재귀 반사판에 의해 재귀 반사되어 상기 검사 대상물로 재입사된 제 1 광과, 상기 제 2 광원으로부터 출사된 제 2 광으로부터 상기 검사 대상물의 영상을 취득하는 카메라;를 포함한다.