Metadata
Author: ParaCrawl Corpus
Data
English[en]
The AL120 interfaces with the Olympus MX series of dedicated wafer inspection microscopes that provide exceptional image resolution and clarity through a wide range of observation methods including brightfield, darkfield, differential interference contrast (DIC), near-IR (near-infrared) and DUV (deep ultraviolet).
Korean[ko]
강력하고 신뢰성 있는 현미경 플랫폼 AL120은 명시야, 암시야, 미분 간섭, 근적외선과 DUV(Deep Ultraviolet)의 관찰 방법을 통해 뛰어난 이미지 해상도와 선명도를 제공하는 웨이퍼 검사 전용 현미경 OLYMPUS MX 시리즈와 호환되서 사용가능합니다.