Metadata
Author: scielo-abstract
Data
English[en]
Microstructure was analysed by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM) and laser scanning microscopy.
Spanish[es]
La microestructura de los recubrimientos se analizó por medio de XRD (X ray diffraction - difracción de rayos X), SEM (scanning electron microscopy - microscopia electrónica de barrido) y microscopia láser confocal.