Besonderhede van voorbeeld: -875064426764099619

Metadata

Author: patents-wipo

Data

English[en]
The angle-dependent photoluminescence emission spectrum measurement device provided by the present invention comprises: a semi-cylindrical prism having a semi-circumferential surface and a flat surface; an excitation light illumination means illuminating an excitation light toward the flat surface of the semi-cylindrical prism; and an emitted light detection means that is placed on one plane vertical to the longitudinal axis of the semi-cylindrical prism and detecting the emitted light passing through the semi-cylindrical prism while moving along the moving path having a semi-circumference shape surrounding the semi-circumferential surface of the semi-cylindrical prism, wherein the incident path of the excitation light is located outside the plane on which the moving path of the emitted light detection means is placed.
French[fr]
Le dispositif de mesure de spectre d'émission à photoluminescence dépendant de l'angle selon la présente invention comprend : un prisme semi-cylindrique possédant une surface semi-circonférentielle et une surface plate; un moyen d'éclairage par lumière d'excitation éclairant une lumière d'excitation vers la surface plate du prisme semi-cylindrique; et un moyen de détection de lumière émise qui est placé sur un plan vertical à l'axe longitudinal du prisme semi-cylindrique et détectant la lumière émise passant à travers le prisme semi-cylindrique tout en se déplaçant le long du trajet mobile possédant une forme de demi-circonférence entourant la surface semi-circonférentielle du prisme semi-cylindrique, le trajet incident de la lumière d'excitation étant situé à l'extérieur du plan sur lequel le trajet de déplacement du moyen de détection de lumière émise est placé.
Korean[ko]
본 발명에서 제공하는 각도 의존성 광루미네선스 방출 스펙트럼 측정 장치는, 반원주면과 평탄면을 갖는 반원통형 프리즘; 상기 반원통형 프리즘의 상기 평탄면을 향하여 여기광을 조사하는 여기광 조사 수단; 및 상기 반원통형 프리즘의 길이방향 축에 수직인 일 평면상에 놓이며 또한 상기 반원통형 프리즘의 반원주면을 둘러싸는 반원주(semicircumference) 형태를 갖는 이동 경로를 따라 이동하면서, 상기 반원통형 프리즘을 통과하는 방출광을 검출하는 방출광 검출 수단;을 포함하며, 상기 여기광의 입사 경로가, 상기 방출광 검출 수단의 이동 경로가 놓이는 평면 밖에 위치한다.

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