Besonderhede van voorbeeld: -920580466567184977

English

All replicas are suitable for 3D examination by SEM and non-contact metrology methods such as interferometry, laser scanning and shadowgraph projection.

Swedish

Alla kopior är lämpliga för 3D undersökning med SEM och icke kontaktsmetrologiska metoder så som interferometri, laserskanning och skuggrafprojektering.