Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
A microscope alternatively configured in interferometric mode and in spectrophotometric mode provides phase data from an interference pattern and reflectance data from a reflectance pattern, respectively.
French[fr]
Un microscope, dont la configuration est alternativement en mode interférométrique et en mode spectrophotométrie, fournit respectivement les données de phase à partir d'un modèle d'interférence et les données de réflexion à partir d'un modèle de réflexion.