Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
Process for particle measurement where the particles are classified by inertial separation, Unwanted particle deposition on the upper stages used for inertial separation is minimized by using switching or modulating either the electrical source used for particle charging or the ion trap used to trap free ions and ultrafine particles.
French[fr]
L'invention porte également sur un procédé permettant la mesure des particules dans lequel les particules sont classées par séparation inertielle. Un dépôt indésirable de particules sur les étages supérieurs utilisés pour la séparation inertielle est minimisé grâce à l'utilisation d'une commutation ou d'une modulation soit de la source électrique utilisée pour la charge des particules, soit du piège à ions utilisé pour piéger des ions libres et des particules ultrafines.