Besonderhede van voorbeeld: 1560109475902349834

Czech

Mikroskopem AFM ve speciálních režimech byly měřeny mapy lokálních mechanických vlastností (tření, adheze hrotu, disipace energie, atd.). Na vybraném vzorku byla metodou Focussed Ion Beam (FIB) analyzována struktura průřezu vzorku a dále bylo zdokumentováno prvkové složení v různých tloušťkách vrstvy metodou Tomáš; Fejfar, Antonín; Ledinský, Martin; Vetushka, Aliaksi; Pikna, Peter; Bauerová, Pavla

English

AFM in special modes was employed to measure the maps local mechanical properties (friction, tip adhesion, energy dissipation, etc.).\nOn a selected sample, the cross-sectional structure of the sample was analysed by the Focussed Ion Beam (FIB) and the elemental composition in various thicknesses was documented by the Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n This report describes a development of optical solution for the Prototype I. There is a development of laser collimator in the firt part of this report.