Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
Disclosed is a system for inspecting an object having irregular patterns, for example, for inspecting a waviness defect in a transparent film.
French[fr]
L'invention porte sur un système pour inspecter un objet ayant des structures irrégulières, par exemple pour inspecter un défaut de gondolage dans un film transparent.
Korean[ko]
불규칙 패턴들을 가지는 대상물, 예를 들어 투명 필름의 너울 불량을 검사하는 시스템이 개시된다. 불균일한 두께를 가지는 대상물의 너울 불량을 검사하는 불량 검사 시스템은 면광을 출력하는 광원 및 상기 광원으로부터 출력된 면광을 점광으로 변환하는 광 변환부를 포함한다.