Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
The present invention estimates and corrects changes in X-ray radiation quality arising from small design tolerances, etc. for substances between the X-ray source and detection elements.
French[fr]
La présente invention estime et corrige des changements de la qualité de rayonnement X résultant de faibles tolérances de conception, etc., pour des substances entre la source de rayons X et des éléments de détection.
Japanese[ja]
X線源と検出素子の間にある物質の僅かな設計公差等に起因するX線の線質の変化を推定し補正する。 それによってデュアルエネルギー撮影法における物質弁別能の低下を防止する。