Besonderhede van voorbeeld: 2348629956053118605

Metadata

Author: patents-wipo

Data

English^[en]

Scanning electron microscope and scanning tunneling electron microscope

French^[fr]

Microscope électronique à balayage, et microscope à effet tunnel

Japanese^[ja]

走査電子顕微鏡及び走査透過電子顕微鏡

History

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