Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
A three dimensional atom probe comprising a sharp specimen (10) coupled to a mounting means (12) where emission of charged particles is caused by application of a potential to the specimen tip (10) such that charged particles are influenced by filtering electrodes (206, 204) before impingement on a detection screen (202).
French[fr]
La ou les électrodes sont chargées à des potentiels tels qu'elles filtrent les ions parasites et les empêchent d'atteindre le détecteur et/ou adaptent (focalisent) le cône de vol des ions pour avoir un angle plus étroit ou plus large, réglant ainsi le grossissement et le champ de vision de l'image formés par la sonde atomique.