Besonderhede van voorbeeld: 3675694919640011158

English

The materials were characterized by X-ray difraction (XRD) to identify the current phase, the crystalline preferential orientation and the lattice parameters associated with the crystal structure of ZnO and mean crystal size and the microstrain as well.

Spanish

Los materiales fueron caracterizados por difracción de rayos X (XRD) para identificar las fases presentes, la orientación preferencial cristalina, los parámetros de red asociados a la estructura cristalina de las muestras y el cálculo del tamaño de cristal, así como de las microtensiones.