Besonderhede van voorbeeld: 4851570802045700228

English

Electron spectroscopy for chemical analysis/x-ray photoelectron spectroscopy (ESCA/XPS) was used to complement and/or verify the results given by ToF-SIMS. The morphological properties of pulps and pulp fractions were studied by atomic force microscopy (AFM) and field emission scanning electron microscopy (FE-SEM).

Finnish

Näitä tuloksia tukemaan ja täydentämään käytettiin kemialliseen analyysiin tarkoitettua elektronispektroskopiaa, joka tunnetaan myös nimellä Massojen ja niistä eristettyjen fraktioiden morfologisten ominaisuuksien analysoimiseen käytettiin atomivoimamikroskooppia (atomic AFM) sekä pyyhkäisyelektronimikroskooppia (field emission scanning electron microscope, FE-SEM).