Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
In the surface parallel to the surface of the off-cut semiconductor substrate (11), the absolute value of the difference in the lengths of the second semiconductor layer (16) and the second conductor (18) in the off-cut direction is greater than the absolute value of the difference in the lengths of the second semiconductor layer (16) and the second conductor (18) in the direction perpendicular to the off-cut direction.
French[fr]
Dans la surface parallèle à la surface du substrat semi-conducteur découpé (11), la valeur absolue de la différence des longueurs de la seconde couche semi-conductrice (16) et du second conducteur (18) dans la direction de coupe est supérieure à la valeur absolue de la différence des longueurs de la seconde couche semi-conductrice (16) et du second conducteur (18) dans la direction perpendiculaire à la direction de coupe.
Japanese[ja]
オフカット半導体基板11を用いて形成された半導体素子であって、各ユニットセル10は、オフカット半導体基板11の表面上に形成された第1半導体層12と、第1半導体層12上に形成され、第1導電領域15、および、第2導電領域14の少なくとも一部を露出する開口部16eを有する第2半導体層16と、第2半導体層16の開口部16eに位置し、第1導電領域15および第2導電領域14に接触する導電面19sを有する第1導電体19と、第2半導体層16上に形成され、第2半導体層16の開口部16sと対応する開口部18eを有する第2導電体17とを備え、オフカット半導体基板11の表面と平行な面において、オフカット方向に沿った第2半導体層16と第2導電体18との長さの差の絶対値が、オフカット方向に垂直な方向に沿った第2半導体層16と第2導電体18の長さの差の絶対値よりも大きい。