Metadata
Author: scielo-abstract
Data
English[en]
The influence of bias voltage on structural and morphological properties was analyzed by means of energy dispersive spectroscopy, x-ray diffraction and atomic force microscopy techniques.
Spanish[es]
Por medio de espectroscopía de energía dispersiva, difracción de rayos x y miscroscopía de fuerza atómica, se analizó la influencia del voltaje de polarización sobre las propiedades morfológicas y estructurales de los recubrimientos.