Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
A perpendicular fine-contact probe according to one aspect of the present invention comprises: a column part in which a plurality of units are formed linking together, stacking up in the length direction; and a tip part which is formed at the tip of the column part and which makes contact with an electrode pad of a semiconductor chip.
French[fr]
Selon un aspect de cette invention, une sonde de contact fin perpendiculaire comprend: une partie de colonne dans laquelle plusieurs unités sont reliées entre elles, et empilées dans le sens de la longueur; et une partie d'extrémité qui est formée au niveau de l'extrémité de la partie de colonne et qui établit un contact avec une pastille d'électrode d'une puce à semiconducteur.
Korean[ko]
본 발명의 일측면에 따른 미세 접촉 프로브는, 복수개의 단위유닛들이 서로 이어지며 길이방향으로 적층되어 형성된 기둥부, 및 상기 기둥부의 선단에 형성되어 반도체 칩의 전극 패드와 접촉되는 선단부를 포함한다. 상기 단위유닛은, 교번하여 좌우로 굴곡되는 프로브 몸체, 및 상기 프로브 몸체로부터 돌출되면서, 폭방향 중심을 기준으로 좌우로 배치되어, 압축 시 인접한 상기 프로브 몸체에 접촉되어 상기 프로브 몸체를 지지할 수 있는 돌기를 포함한다.