Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
The invention relates to a bimodal method for quantifying non-topographical properties in force field microscopy, based on simultaneously modulating, in terms of frequency, at least two vibration modes of the microlever of a microscope, which uses the frequency shifts of the excited modes and the changes in the excitation forces to quantify nanomechanical properties.
Spanish[es]
Método bimodal para cuantificar propiedades no topográficas en microscopía de fuerzas, basado en modular en frecuencia y de forma simultánea al menos dos modos de vibración de la micropalanca de un microscopio, que emplea los desplazamientos de frecuencia de los modos excitados y los cambios en la fuerzas de excitación para cuantificar propiedades nanomecánicas.
French[fr]
Méthode bimodale pour quantifier des propriétés non topographiques en microscopie à force, basée sur la modulation en fréquence et simultanément au moins deux modes de vibration du microlevier d'un microscope, qui utilise les déplacement de fréquence des modes excités et les changements dans les forces d'excitation pour quantifier des propriétés nanomécaniques.