Besonderhede van voorbeeld: 6330501992157778948

English

All replicas are suitable for 3D examination by Scanning Electron Microscopy (SEM) and non-contact metrology methods such as interferometry, laser scanning and shadowgraph projection.

Spanish

Todas las réplicas son adecuadas para análisis 3D mediante métodos de microscopía electrónica (SEM) y de metrología sin contacto tales como la interferometría, el escaneado mediante láser y la proyección de perfiles.