Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
The present invention relates to a method for automatically generating teaching data of an automated optical inspection (AOI) machine, which automatically recognizes a teaching start point and a teaching end point through pattern matching for predetermined solder shape information, without external information such as a Gerber-file or a manual teaching process performed by an operator, and sequentially and repeatedly searches whether brightness values for each position within an image satisfy predetermined conditions, and thus can automatically obtain a link (wiring) path for connecting the teaching start point and the teaching end point.
French[fr]
La présente invention porte sur un procédé pour générer automatiquement des données d'apprentissage d'une machine d'inspection optique automatisée (AOI), qui reconnaît automatiquement un point de début d'apprentissage et un point de fin d'apprentissage par appariement de formes pour des informations de forme de soudure prédéterminées, sans informations externes telles qu'un fichier Gerber ou un processus d'apprentissage manuel effectué par un opérateur, et qui recherche d'une manière séquentielle et répétée si des valeurs de luminosité pour chaque position dans une image satisfont des conditions prédéterminées, et peut ainsi obtenir automatiquement un chemin de liaison (câblage) pour connecter le point de début d'apprentissage et le point de fin d'apprentissage.
Korean[ko]
본 발명은 거버 파일(Gerber-file)과 같은 외부 정보 또는 오퍼레이터에 의한 수동 티칭 과정이 없이, 기 설정된 납땜 형상 정보에 대한 패턴 매칭을 통해 티칭 시작점과 종료점을 자동으로 인식하고, 영상 내의 각 위치에 대한 밝기 값이 설정된 조건을 만족하는지 여부를 순차적으로 반복 탐색함으로써 티칭 시작점과 종료점을 연결하는 링크(배선) 경로를 자동으로 획득할 수 있는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법에 관한 것이다.