Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
The present invention relates to a probe for inspecting electronic components, and more particularly, to a probe for inspecting electronic components which connects an electronic component, which is an inspection object, to an inspecting apparatus for inspection in order to inspect defects in the electronic component, which is an inspection object.
French[fr]
La présente invention porte sur une sonde pour inspecter des composants électroniques, et, plus particulièrement, sur une sonde pour inspecter des composants électroniques qui connecte un composant électronique, qui est un objet d'inspection, à un appareil d'inspection pour une inspection afin d'inspecter des défauts dans le composant électronique, qui est un objet d'inspection.
Korean[ko]
본 발명은 전자부품 검침 프로브에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 검사대상물 전자부품의 불량을 검사하기 위해, 검사대상물 전자부품과 검사용 검사장치가 접속되도록 연결하는 전자부품 검침 프로브에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자부품 검침 프로브는, 원통 형태의 실린더몸체와, 상기 실린더몸체 내부에서 외부로 왕복운동 하는 피스톤몸체와, 상기 실린더몸체와 피스톤몸체의 외주연을 감싼 채로 형성되되, 상기 피스톤몸체 일부가 상기 실린더몸체 내부에 진입 후 탄성에 의해 외부로 돌출되도록 하는 스프링과, 상기 실린더몸체에서 연장형성되되, 전류의 흐름 검사를 받는 전자부품에 접속하는 검침부와, 상기 피스톤몸체에서 연장형성되되, 상기 전자부품을 검사하는 검사장치에 접속하는 접속부를 포함한다.