Metadata
Author: WikiMatrix
Data
English[en]
Nonconductive specimens collect charge when scanned by the electron beam, and especially in secondary electron imaging mode, this causes scanning faults and other image artifacts.
Indonesian[id]
Spesimen nonkonduktif cenderung bermuatan ketika dipindai oleh berkas elektron, dan terutama dalam modus pencitraan elektron sekunder, hal ini menyebabkan kesalahan pemindaian gambar dan artefak lainnya.