Metadata
Author: EurLex-2
Data
Danish[da]
naar de er specielt konstrueret og instrumenteret til kontaktfri proevning af halvlederindretninger under spaending.
German[de]
Unternummer 3B008d erfasst nicht Rasterelektronenmikroskope, ausgenommen solche, die für die berührungsfreie Prüfung von Halbleiterbauelementen im eingeschalteten Zustand besonders ausgelegt und ausgerüstet sind.
Greek[el]
Όταν αυτά έχουν ειδικά σχεδιασθεί και περιέχουν όργανα για τη μη επαφική δειγματοληψία συσκευών ενεργοποιημένων συσκευών ημιαγωγών.
English[en]
When specially designed and instrumented for the non-contactive probing of powered-up semiconductor devices.
Spanish[es]
NOTA: El subartículo 3B008.d no incluye los microscopios electrónicos de barrido; excepto: Cuando estén diseñados especialmente y equipados para su uso como sonda sin contacto de dispositivos semiconductores en funcionamiento.
French[fr]
Note: L'alinéa 3B008d ne vise pas les microscopes électroniques à balayage sauf lorsqu'ils sont spécialement conçus et équipés pour le test sans contact d'un dispositif semi-conducteur sous tension.
Portuguese[pt]
Quando especialmente concebidos e dotados de instrumentos para testes sem contacto de dispositivos de semicondutores alimentados.