Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
A measurement device includes a measurement unit for applying m (where m is an integer greater than or equal to n) different input signals including n (where is an integer greater than or equal to 2)frequency components to an object under measurement and acquiring m response signals and an analysis unit for calculating a nonlinear impedance from the m input signals and m response signals.
French[fr]
La présente invention concerne un dispositif de mesure comprenant une unité de mesure destinée à appliquer m (où m est un nombre entier supérieur ou égal à n) signaux d'entrée différents comprenant n (où n est un nombre entier supérieur ou égal à 2) composantes de fréquences à un objet en cours de mesure et à acquérir m signaux de réponse ; et une unité d'analyse destinée à calculer une impédance non linéaire à partir des m signaux d'entrée et des m signaux de réponse.
Japanese[ja]
計測装置は、n個(n:2以上の整数)の周波数成分を含む、異なるm個(m:n以上の整数)の入力信号を被計測物に与え、m個の応答信号を取得する測定部と、m個の入力信号およびm個の応答信号から、非線形インピーダンスを算出する解析部とを含んでいる。