Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
An optical and atomic force microscopy measurement integrated system, comprising an atomic force microscope having a first probe apt to interact with a sample to be analysed, an optical tweezer, a second probe apt to be held in the focus of the optical tweezer, movement means for moving the two probes, measurement means for measuring the variations of position of the two probes and processing means apt to receive in input the measurement signals of the two probes to generate an output signal representative of the sample.
French[fr]
La présente invention porte sur un système intégré de mesures de microscopie à force atomique et optique comprenant un microscope à force atomique doté d'une première sonde capable d'interagir avec un échantillon à analyser, une pince optique, une deuxième sonde pouvant être maintenue dans le foyer de la pince optique, un moyen de déplacement destiné à déplacer les deux sondes, un moyen de mesure destiné à mesurer les variations de position des deux sondes et un moyen de traitement capable de recevoir en entrée les signaux de mesure des deux sondes de façon à générer un signal de sortie représentatif de l'échantillon.