Metadata
Author: patents-wipo
Data
English[en]
A means or artefact for calibrating the height/depth or Z axis of a microscope, such as a confocal microscope, an interference microscope or a Scanning Electron Microscope.
French[fr]
L'invention concerne une unité ou artéfact permettant d'étalonner la hauteur/profondeur ou l'axe Z d'un microscope, tel qu'un microscope confocal, un microscope interférentiel ou un microscope électronique à balayage.