spectrométrie de masse à émission d'ions secondaires oor Engels
spectrométrie de masse à émission d'ions secondaires
Vertalings in die woordeboek Frans - Engels
SIMS
secondary ion mass spectroscopy
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Gabriele Tamborini de l'ITU à Karlsruhe (DE), auparavant à l'IE, pour ses travaux sur une méthode de spectrométrie de masse à émission d'ions secondaires pour l'analyse de microparticules radioactives.
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L'invention concerne également un procédé de spectrométrie de masse à émission d'ions secondaires consistant à obtenir une surface cible destinée à soutenir un échantillon; à diriger un faisceau d'ions primaires vers l'échantillon pour pulvériser des ions secondaires et des particules neutres à partir de l'échantillon; et à fournir une haute pression au niveau de l'échantillon pour refroidir les ions secondaires et les particules neutres, cette haute pression étant comprise entre environ 10-3 et environ 1000 torr.
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Le spectromètre de masse possède une chambre (5) dans laquelle un échantillon (2) est disposé, une unité d'irradiation (3) pour émettre des particules vers l'échantillon et une électrode d'extraction qui conduit des ions secondaires émis par l'échantillon vers une unité de spectrométrie de masse (4), dans laquelle l'unité d'irradiation passe entre un premier mode d'émission d'ions primaires, afin d'amener les ions primaires à être émis par l'échantillon, et un second mode d'émission de particules contenant des molécules d'eau afin de les amener à adhérer à l'échantillon et qui émet les particules vers l'échantillon.
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