spectrométrie de masse à émission ionique secondaire oor Engels
spectrométrie de masse à émission ionique secondaire
Vertalings in die woordeboek Frans - Engels
secondary ion mass spectrometry
SIMS
ion microscopy
ion probing
secondary-ion mass spectrometry
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voorbeelde
Advanced filtering
Voorbeelde moet herlaai word.
Procédé de détermination du poids moléculaire de quantités de l'ordre du femtomole ou plus petites de petits peptides, d'oligonucléotides ou de composés hétérocycliques liés de manière covalente à des perles de polystyrène adressable, à l'aide de la spectrométrie de masse à émission ionique secondaire à temps de vol (TOF-SIMS).
Just hang with you and not think of any consequences for one day?patents-wipo patents-wipo
Plus précisément, l'invention concerne un procédé diagnostiquant une maladie à l'aide d'un motif de pics de masse ionique secondaire (m/z) d'échantillons biologiques mesurés à l'aide de la spectrométrie de masse à émission ionique secondaire à temps de vol (TOF-SIMS) comme marqueur, un procédé de dépistage de marqueur servant de référence pour évaluer l'existence ou la non-existence d'une maladie et un marqueur configuré des pics de masse ionique secondaire spécifique.
I' m almost # years olderthan youpatents-wipo patents-wipo
La présente invention concerne un procédé de diagnostic de maladie, un procédé de dépistage de marqueur et un marqueur utilisant la spectrométrie de masse à émission ionique secondaire à temps de vol (TOF-SIMS) et plus particulièrement un procédé de diagnostic d'un cancer du gros intestin, un procédé de dépistage d'un marqueur du cancer du gros intestin et un marqueur du cancer du gros intestin utilisant la spectrométrie de masse à émission ionique secondaire à temps de vol (TOF-SIMS).
Theyjust didn' t want me anymorepatents-wipo patents-wipo
Selon l'invention, une âme de fibre optique est un brin de fibre optique composé de fibre optique de verre revêtue d'au moins deux couches de revêtement, à savoir une couche souple et une couche dure, dans laquelle le rapport d'intensité du pic de C3H7O+(m/z59) ou C4H9O+(m/z73) sur le pic de Si+ (m/z28) est de 0,6 ou plus sur la surface de verre à partir de laquelle les couches de revêtement sont retirées par spectrométrie de masse à émission ionique secondaire à temps de vol (TOF-SIMS).
That' s so sadpatents-wipo patents-wipo
Installation de microanalyse des matières naturelles à l’aide de la spectrométrie de masse à émission ionique secondaire
Remember meParaCrawl Corpus ParaCrawl Corpus
Caractérisation physique et chimique des particules de béryllium au sein de différents milieux de travail au Québec (Canada) – spectrométrie de masse à émission ionique secondaire à temps de vol (Affiche)
Tim, I gotta call you backParaCrawl Corpus ParaCrawl Corpus
6 sinne gevind in 8 ms. Hulle kom uit baie bronne en word nie nagegaan nie.