atomic force microscopy oor Fins

atomic force microscopy

naamwoord

The science and technology associated with the design and use of atomic force microscopes

Vertalings in die woordeboek Engels - Fins

Atomivoimamikroskooppi

very high-resolution type of scanning probe microscopy

voorbeelde

Micromechanical sensors for atomic force microscopy
Mikromekaaniset anturit atomivoimamikroskooppeja varten

The surface morphology of the thin films was also examined using atomic force microscopy.
Myös ohutkalvojen pinnanmuotoa tutkittiin atomivoimamikroskopian avulla.

Simulating atomic force microscopy at the solid-liquid interface
Immobilisoitujen proteiinien tutkiminen atomivoimamikroskopialla

Open films of nanosized cellulose - atomic force microscopy and quantification of morphology
Immobilisoitujen proteiinien tutkiminen atomivoimamikroskopialla

Atomic force microscopy (AFM + m-TA) - Imaging of surface structures in micometer scale, thermal conductivity and melting
Atomivoimamikroskooppi (AFM + m-TA) - pintarakenteiden kuvantaminen mikrokokoluokassa, lämmönjohtokyvyn ja sulamisen määritys

Atomic force microscopy - Wikipedia
Atomivoimamikroskooppi – Wikipedia

Molecular structure reconstruction from atomic force microscopy data using machine learning
Immobilisoitujen proteiinien tutkiminen atomivoimamikroskopialla

Friction mechanisms of ice and rubber and their investigation using atomic force microscopy
Immobilisoitujen proteiinien tutkiminen atomivoimamikroskopialla

Also atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM) were used for visual assessment.
Lisäksi atomivoimamikroskopiaa (AFM) ja pyyhkäisyelektronimikroskopiaa (SEM) hyödynnettiin tulosten visuaalisessa arvioinnissa.

Particularly, in the thesis the usage of diamond needle-like structures as a probe in atomic force microscopy are presented.
Erityisesti väitöstyössä esitettyjä timanttineulamaisia rakenteita voidaan hyödyntää atomivoimamikroskoopin mittapäänä.

The quality of quantum wells is analyzed by x-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM), and photoluminescence (PL) measurements.
Kvanttikaivojen laatua tutkittiin röntgendiffraktiolla, atomivoimamikroskopialla ja fotoluminesenssimittauksilla.

Particle size and dispersion stability studies were carried out with dynamic light scattering (DLS) and atomic force microscopy (AFM) experiments.
Partikkelikoon ja - dispersion stabiiliuden määritys tehtiin dynaamisen valonsironnan ja atomivoimamikroskooppimittausten avulla.

The film was imaged using atomic force microscopy from both sides, revealing a monomolecular film with a defined molecular structure.
Kalvon molemmat puolet kuvattiin atomivoimamikroskoopilla ja osoitettiin, että kalvo on muodostunut yhdestä hydrofobiinimolekyylikerroksesta, jolla on hyvin järjestäytynyt molekyylitason rakenne.

Contact profilometry, scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) are powerful methods for studying the topography of plastic surfaces.
Uusien ja kulutettujen kaupallisten muovipintojen ja laboratoriossa valmistettujen PVC-mallipintojen pinnan topografiaa tutkittiin kontaktiprofilometrialla, pyyhkäisyelektronimikroskopialla ja atomivoimamikroskopialla.

Areas of faculty research and publishing include electron tunneling and atomic force microscopy and quantum conductance and electrons in low dimensionalities.
Tiedekunnan tutkimuksen ja julkaisun alueet sisältävät elektronin tunnelointi- ja atomi-voimamikroskopian ja kvanttikonduktanssin sekä elektronit matalalla ulotteisuudella.

Non-contact mode[edit] In non-contact atomic force microscopy mode, the tip of the cantilever does not contact the sample surface.
Kosketusmoodi on kontakti- ja ei-kontaktimoodien välimuoto, jossa kärki osuu kevyesti näytteen pintaan.

Atomic force microscopy (AFM) was applied for studying changes in surface contamination of stainless steel weights upon ultrasonic cleaning in ethanol and vacuum exposure.
Työssä hyödynnettiin atomivoimamikroskooppia (AFM) ruostumattomasta teräksestä valmistettujen punnusten pintakontaminaation muutosten tutkimiseen kun punnuksia puhdistettiin ultra-äänellä etanolissa ja altistettiin tyhjiölle.

Atomic force microscopy, contact angle measurement and X-ray photoelectron spectroscopy were used to investigate the topography, wettability and surface chemical composition of the films.
Atomivoimamikroskopiaa (AFM), kontaktikulmamittausta ja röntgenfotoelektronispektroskopiaa (XPS) käytettiin filmien topografian, kosteusalttiuden ja pinnan kemiallisen koostumuksen tutkimiseen.

Circular dichroism analysis, atomic force microscopy and FTIR proved that the triple helix structure of the extracted collagen was not affected by sonication and remained intact.
Pyöreä dikroismi-analyysi, atomi- voimamikroskopia ja FTIR osoittivat, että sonikaatiolla ei ollut vaikutusta uutetun kollageenin triple helix -rakenteeseen ja pysyi ennallaan.

In this study, a combination of steered molecular dynamics simulations, polyprotein engineering, and single-molecule atomic force microscopy was used to investigate unfolding of these proteins.
Tutkimuksessa käytettiin molekyylidynamiikkasimulaatioita, geneettisesti muokattuja proteiineja ja yksittäisten molekyylien atomivoimamikroskopiaa proteiinien tutkimiseen.

High resolution X-ray diffraction (HRXRD), atomic force microscopy (AFM), and photoluminescence (PL) spectroscopy were used to characterize the crystal quality, surface morphology and light extraction, respectively.
Korkearesoluutioisella röntgendiffraktiolla (HRXRD), atomivoimamikroskoopilla (AFM) ja fotoluminesenssilla tutkittiin näytteiden kidelaatua, pinnan morfologiaa ja valon uuttotehokkuutta.

The structures fabricated are characterized by photoluminescence (PL) measurements, then by current-voltage (I-V) measurements and also by atomic force microscopy (AFM) which was also briefly reviewed in this work.
Valmistetut rakenteet karakterisoidaan fotoluminesenssimittauksilla (PL), virtajännitemittauksilla (I-V) ja atomivoimamikroskoopilla (AFM).

In this context the specific purpose was to compare four different analysing techniques (optical microscopy, scanning electron microscopy, laser profilometry and atomic force microscopy) in various pharmaceutical applications where the surfaces have quite different roughness scale.
Erityisesti tavoitteena oli verrata neljän eri analyysitekniikan (valomikroskooppi, laserprofilometri, pyyhkäisyelektronimikroskooppi ja atomivoimamikroskooppi) käyttöä pinnoilla, joilla oli erilaiset karheusominaisuudet.

Electron spectroscopy for chemical analysis/x-ray photoelectron spectroscopy (ESCA/XPS) was used to complement and/or verify the results given by ToF-SIMS. The morphological properties of pulps and pulp fractions were studied by atomic force microscopy (AFM) and field emission scanning electron microscopy (FE-SEM).
Näitä tuloksia tukemaan ja täydentämään käytettiin kemialliseen analyysiin tarkoitettua elektronispektroskopiaa, joka tunnetaan myös nimellä Massojen ja niistä eristettyjen fraktioiden morfologisten ominaisuuksien analysoimiseen käytettiin atomivoimamikroskooppia (atomic AFM) sekä pyyhkäisyelektronimikroskooppia (field emission scanning electron microscope, FE-SEM).

The adsorption and interactions between NFC and different water-soluble, linear polysaccharides were studied in a molecular level using cellulose model surfaces and surface sensitive techniques such as quartz crystal microbalance with dissipation monitoring (QCM-D), surface plasmon resonance (SPR), atomic force microscopy (AFM) and colloidal probe microscopy (CPM).
Vesiliukoisten ja lineaaristen polysakkaridien adsorptiota ja vuorovaikutusta NFC:n kanssa tutkittiin molekyylitasolla. Tämä pystyttiin tekemään hyödyntämällä kvartsikidemikrovaakaa (QCM-D), pintaplasmaresonanssia (SPR), atomivoimamikroskooppia (AFM) sekä pintavoimamittauksia (CPM).