pic de diffraction oor Engels

pic de diffraction

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diffraction peak

Des pics de diffraction élargis pour l'alliage Al–Fe indiquent une taille d'environ 60 Å pour les cristallites.
Broadened diffraction peaks for the Al–Fe alloy suggest a crystallite size of about 60 Å.

voorbeelde

L'iridate en couches a un angle de diffraction 2θ de 12,3° et un pic de diffraction à 24,6°.
The layered iridate has a 2θ diffraction angle of 12.3° and a diffraction peak at 24.6°.

Des pics de diffraction élargis pour l'alliage Al–Fe indiquent une taille d'environ 60 Å pour les cristallites.
Broadened diffraction peaks for the Al–Fe alloy suggest a crystallite size of about 60 Å.

Une région d'empreinte peut présenter des profils d'empreinte de pics de diffraction associés à différentes réactivités.
A fingerprint region can exhibit fingerprint patterns of diffraction peaks associated with different reactivities.

Quelle est la largeur du pic de diffraction autour d'un maximum ?
What is the width of a diffraction peak about the maximum?

Il existe de nombreux facteurs qui déterminent la largeur B d'un pic de diffraction.
There are many factors that determine the width B of a diffraction peak.

En général, un faisceau de neutrons incident sur un cristal ne donnera pas de pic de diffraction.
In general, a beam of neutrons incident on a crystal will not give rise to a diffraction peak.

M représente le potassium, l'angle de diffraction 2θ est de 13,0°, et il y a un pic de diffraction à 26,0°.
M is potassium, the 2θ diffraction angle is 13.0°, and there is a diffraction peak at 26.0°.

À ce stade, de nouveaux pics de diffraction apparaissent et certains anciens disparaissent en fonction de la symétrie de la nouvelle phase.
At this point new diffraction peaks will appear or old ones disappear according to the symmetry of the new phase.

La présence de faibles pics de diffraction de rayons X associés à des phases non chalcopyrites indique qu'il se produit une certaine ségrégation.
The presence of weak X-ray diffraction peaks associated with nonchalcopyrite phases indicated that some segregation had occurred.

Un pic de diffraction des rayons X sur poudre aux petits angles peut indiquer la présence d'une ou plusieurs phases cristallines dans une composition.
A low angle powder X-ray diffraction peak can indicate the presence of one or more crystal phases in a composition.

Les formes cristallines D1 et D2 présentent des pics de diffraction de rayons X sur poudres décrits dans les figures 1 et 3, respectivement.
The crystalline forms D1 and D2 have X-ray powder diffraction peaks described in Figs. 1 and 3, respectively.

En outre, le rapport de l'intensité de diffraction du pic de diffraction C/l'intensité de diffraction du pic de diffraction D est inférieur ou égal à 0,35.
In addition, the ratio of the diffraction intensity of diffraction peak C to the diffraction intensity of diffraction peak D is 0.35 or less.

LaB6 est aussi utilisé comme standard de souche/taille pour la diffraction de poudre appliquée aux rayons X, afin de calibrer la gamme des pics de diffraction.
LaB6 is also used as a size/strain standard in X-ray powder diffraction to calibrate instrumental broadening of diffraction peaks.

La couche de conversion photoélectrique a un pic de diffraction correspondant à un pas (d) de 1,6 à 2,0 nm dans un profil de diffraction de rayons X.
The photoelectric conversion layer has a diffraction peak corresponding to a lattice spacing (d) of 1.6 nm to 2.0 nm in an X-ray diffraction profile.

L'invention concerne un matériau poreux qui comprend des oxydes de silicium et d'aluminium et qui est sensiblement dépourvu de pics de diffraction des rayons X sous sa forme calcinée.
A porous material comprises oxides of silicon and aluminum and is substantially free of X-ray diffraction peaks in its calcined form.

La composition de pigments azoïques contient, de préférence, un pigment azoïque qui présente des pics de diffraction des rayons X caractéristiques dans différentes positions, et un tautomère de celui-ci.
Preferably, the azo pigment composition contains an azo pigment, which has characteristic X-ray diffraction peaks at different positions, and a tautomer thereof.

Étant donné que ces variables thermodynamiques sont modifiées, les pics de diffraction observés vont migrer de façon continue pour indiquer des distances réticulaires supérieurs ou inférieurs que la l'unité cellulaire déforme.
As these thermodynamic variables are changed, the observed diffraction peaks will migrate continuously to indicate higher or lower lattice spacings as the unit cell distorts.

Les constituants chimiques principaux de ce mortier originel sont: 18 % SiO2, 23 % CaO et 34 % SO3. les pics de diffraction des RX indiquent la présence de gypse, de calcite et de quartz.
The major chemical constituents of the original mortar are 18 % SiO2, 23 % CaO, and 34 % SO3. X-ray diffraction peaks indicate the presence of gypsum, calcite and quartz.

La position d'un pic de diffraction est 'indépendant' des positions atomiques à l'intérieur de la cellule et entièrement déterminée par la taille et la forme de la cellule unitaire de la phase cristalline.
The position of a diffraction peak is 'independent' of the atomic positions within the cell and entirely determined by the size and shape of the unit cell of the crystalline phase.

De préférence, l'angle de diffraction de pic maximal dans le schéma de diffraction grand angle à rayons X est compris entre 23,0 et 25,0 degrés.
Preferably, the maximum peak diffraction angle in the wide-angle X-ray diffraction pattern is 23.0 to 25.0 degrees.

L'invention concerne en outre un film d'un copolymère de téréphtalate de 1,4-cyclohexylènediméthylène et d'isophtalate de 1,4-cyclohexylènediméthylène présentant un pic de diffraction des rayons X maximum dans la plage de 22° ≤ 2θ ≦ 24°.
Film of a copolymer of 1,4-cyclohexylenedimethylene terephthalate and 1,4-cyclohexylenedimethylene isophthalate having a maximum peak in X-ray diffraction in the range 22° ≤ 2θ≦ 24°.

Par ailleurs, le film anisotrope absorbant la lumière présente des pics de diffraction résultant de la structure périodique dans la direction perpendiculaire à l'axe d'orientation tel qu'il est mesuré par diffractométrie des rayons X.
Also, the light-absorbable anisotropic film exhibits diffraction peaks resulting from the periodic structure in the direction perpendicular to the orientation axis as measured by X-ray diffractometry.

Dans un profil de diffraction de rayons X de ladite couche mince piézoélectrique (3), un pas de réseau calculé à partir du pic de diffraction d'un plan (001), est inférieur ou égal à 3,975Å.
In the X-ray diffraction profile of the piezoelectric thin film (3), the lattice plane spacing calculated from the diffraction peak of the (001) plane is not more than 3.975Å.

La forme cristalline R1 d'hémihydrate de canagliflozine de la revendication 1, caractérisée par des pics de diffraction des rayons X sur poudre ayant des valeurs d'espacement d à environ 3,1, 3,7, 4,6, et 8,9 A.
The crystalline Form R-3 canagliflozin hydrate, characterized by an X-ray powder diffraction peaks having d-spacing values at about 9.2,4.1,4.5, and 7.2 Å.

Dans des mesures de diffraction des rayons X sur poudre (Cu/Kα), cette particule d'oxyde de manganèse présente de préférence un pic de diffraction au moins à 2θ (deg) = 11,9 ± 1°, 24,0 ± 1° et 36,3 ± 1°.
In powder XRD measurements (Cu/Kα), this manganese oxide particle preferably exhibits a diffraction peak at least at 2θ (deg) = 11.9 ± 1°, 24.0 ± 1°, and 36.3 ± 1°.