Microscope électronique pourvu, dans le sens de l'axe longitudinal, d'au moins un système de production d'un faisceau électronique, d'un système à condenseur et objectif, d'une chambre à échantillon possédant un porte-échantillon, et d'un système à lentille de projection comportant un écran de visualisation permettant la microscopie électronique à transmission (MET), et/ou un détecteur d'électrons permettant la microscopie électronique à balayage (MEB).
Electron microscope provided, in the direction of the longitudinal axis, with at least one electron beam generation system, a condenser and objective lens system, a specimen chamber with a specimen mount, a projection lens system with imaging screen for the purpose of transmission electron microscopy (TEM) and/or an electron detector for the purpose of scanning electron microscopy (SEM).patents-wipo patents-wipo