In this case, each of the N number of unit cells comprise a plurality of elements futher comprising an amorphous-Si, a poly-Si, a metal oxide, an organic substance, among others, wherein the a digital value having at least an N number of bits is generated by generating a digital value having least 1 bit from each of the N number of unit cells, using the characteristic differences, which is caused by the process variation from the process for manufacturing the semiconductor, between the plurality of elements that are included in each of the N number of unit cells.
이 경우, 상기 N 개의 단위 셀의 각각은 비결정 실리콘(amorphous-Si), 다결정 실리콘(poly-Si), 산화 금속, 유기물 등으로 구성된 복수 개의 소자를 포함하고, 반도체 제조 공정의 공정 편차에 의해 생기는 상기 N 개의 단위 셀 각각에 포함된 복수 개의 소자들 간의 특성 차이를 이용하여, 상기 N 개의 단위 셀 각각으로부터 적어도 1비트의 디지털 값을 생성하여, 상기 전자 장치는 적어도 N 비트의 디지털 값을 생성한다.patents-wipo patents-wipo