반도체소자 테스트 시스템, 테스트핸들러, 테스트헤드, 반도체소자 테스터의 인터페이스블럭, 테스트가 이루어진 반도체소자의 분류방법 및 반도체소자 테스트 지원방법
Système de test de dispositif à semi-conducteur, gestionnaire de test, tête de test, bloc d'interface pour testeur de dispositif à semi-conducteur, procédé pour la classification d'un dispositif à semi-conducteur testé et procédé pour la prise en charge du test d'un dispositif à semi-conducteurpatents-wipo patents-wipo